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测高仪
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- 上海群测机电设备有限公司
- 2011-09-20 14:49:07.0
- 350/600/900
- 面议
- 945
【详细说明】
MICRO HITE测高仪
TESA Micro Hite具有自成一体的设计理念,非常适合于一维和两维的集合坐标测量 – 内外长度,高度,深度,阶梯尺寸和距离.
自动搜索最高和最低点的功能及其对最大最小值及其差值的记忆能力使之成为圆形尺寸的测量有效工具.外加TESA 1G- 13(选加附件)则更能按照ISO1101标准测量垂直度,直线度,平行度和端跳.
此测高仪安装在镀镍的坚固底座上,底座上配有三个精密抛光支承,气浮可使测高仪在测量平台上轻松移动.金属光栅尺带有零位参考点,测量头安装在滚珠轴承是哪个,驱动系统可锁定并进行微调(需选加附件).计算机误差补偿更提高了长度,直线度和垂直度的测量精度。
Model/型号规格 TESA MICRO-Hite
350 600 900
测量范围 mm 365 615 920
最大允许误差(带标准附件) (2+3L)um,
(L单位为米/L in m)
重复性(带标准附件) 2s≤2um
运动速度 300mm/s
机械垂直度 u m <7 <9 <11
主机重量 kg 33 38 45
可充电电池寿命 12小时/12hours