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蔡司携多款测量设备亮相SIMM2014
2014-2-21  来源:  作者:
      在SIMM2014展会上,德国蔡司将展出包括METROTOM CT、SPECTRUM、Contura G2、O-INSPECT、Contura G3等多款测量设备。 
   
      其中,METROTOM CT 扫描测量系统完美融合了几何量计量及断层扫描成像技术,通过数字图像重构实现三维精确可视化。METROTOM作为最佳的无损检测与测量方案,弹指间,完美呈现内部细节,轻松洞悉内部缺陷及孔隙率,快速查看部件内部装配及间隙状态,可大幅缩短产品开发周期及质量分析时间,提供形象直观的色彩偏差分析及多样化检测报告。不同于传统破坏性测量技术,METROTOM 让业界享受高效率测量所带来的无限可能性,让一切可见可测。适用于几何量三维尺寸测量、数模对比、缺陷分析、装配检测及逆向工程等应用领域,广泛应用于塑料、汽车、医疗及科研等行业对于工业CT的多元化应用要求。 
   
      SPECTRUM是蔡司最新推出的通用经济型三坐标测量机,适用于中小型工件的测量任务。四种测量范围可灵活选配,长度不确定度最高可达2.4+L/250 um。所有导轨中均使用四面环抱气浮轴承结构,能够实现流畅、精确、高速的三轴向CNC运动,来自四个方向的牢固支撑保证了其出色的测量重复性;集成了C99L控制柜的SPECTRUM减少了测量机整体占地面积;与之匹配的myCalypso 软件中50个最常见的测量任务已经被编辑成宏程序,用户可以根据工件轻松组合,创建需要的测量任务。在测量过程中,软件中简单直观的用户向导提供了清晰、上下文关联的指令,从而加快了测量和评估速度。采用蔡司专利的ZERODOR零膨胀光栅尺,使设备整体对温度不敏感,放松了对设备使用的要求和成本;该款测量机控制柜安装在底座上,易于使用和维护SPECTRUM可以与大多数Renishaw传感器(标准5针DIN)兼容,用户可针对应用范围选择适当的传感器。 
   
      Contura G2 RDS 和 Contura G2 Active,由基础机型升级到更灵活更高精度的机型,采用主动扫描技术,物超所值,非常适合中小型生产企业。Contura G2 RDS 配置 VAST XXT 扫描探头,可自由、快速旋转探针,扫描范围达到任何的角度位置。Contura G2 Active 具有自定心功能,可测量深孔元素,具有对尺寸、形状及位置的高可靠性测量。VAST的扫描技术使工件的形状检验可以最快的速度获得高品质测量结果,可及早发现加工过程中的变化,确保产品质量并将废品率降至最低。集成Navigator技术的VAST万能扫描探头能高速高精度测量单点及多点,在测量时间降低的同时可以高密度处理数据。由蔡司研发制造的玻璃陶瓷光栅尺,具有良好的温度稳定性,保证测量结果不受温度波动的影响。
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