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环球瞭望

GLOBAL OUTLOOK

称组件外径的有效途径。Mitutoyo、Keyence 等
制造商推出的光学千分尺属于绝对永久校准型量
规，不要求任何控制。支持多点校准，可确保各
个直径的量角器卡榫合格或达到部件控制标准。
在测量范围内能够达到高测量精度，足以满足多
种轴承组件的要求。光学千分尺能够成功完成绝
对外径测量。

光学千分尺特殊灵敏度调节

千分尺的光学特性在整个测量区域变化不
一。安装到 X-Y 精密工作台上经认证的量角器卡
榫可以用来映射测量区域内的直径测量误差 ( 测
量范围与视野深度 )。对光学千分尺进行误差映
射和误差补偿后，铁姆肯发现此类量规类型可以
达到公司的精度要求。
从技术上讲，可以在部件测量区域内多个位
置处进行直径测量。但是，为了利用映射，部件
轴线一般设置在测量区域内的某一具体位置，确
保千分尺的读数结果准确。此外，部件轴线必须
与千分尺达到光学对齐 ; 也就是说，部件轴线必 磨削后的 Timken 锥形滚筒。光学千分尺设置在磨削机上，能
够立即显示尺寸测量结果，精准控制这个过程
须与千分尺的扫描方向互相垂直。横截面若是未
能与扫描方向对齐，也不会导致该横截面实测直 拉里 · 凯勒先生所在部门在进行千分尺布
径出现重大误差。但是，对于某些部件几何形状 局时面临的另一个大问题是部件的清洁度。他说
( 锥形或长度方向为曲线 ) 和较大歪斜，该平面 道 : “光学检查提出的部件清洁度要求与 CMM
上的实测直径与部件直径存在出入。轴线若是未 接触检查相同。由于量规作用力较小，CMM 对
能与扫描方向保持垂直关系，则该横截面的实测 部件表面污染的耐受性低于比较接触式量规。”
直径很容易出现误差。 同样地，光学千分尺也无法容忍测量平面上有任
千分尺在测量时需要控制一些变量。凯勒 何污点。因此，铁姆肯在安排光学测量前，要求
先生对如何培训用户，使其理解在该领域新技术 先对部件进行清洁，清洁程度要求不低于 CMM
的灵敏度进行了解释。在某次练习过程中，培训 测量的要求。
导师要求某学生使用测量范围为 30 mm 的光学 其他的问题还包括边缘检测问题，比如部件
千分尺，在测量区域内，选择多个位置测量直径 表面污染、 表面纹路和反射性限制以及边缘色散。
10 mm的部件。 并记录下实测直径结果分布情况， 但是，可以让部件围绕其轴线旋转几周，同时进
将分布平均值与实际直径进行比较。然后再要求 行直径测量，得出直径平均值。通过这样一个过
该学生用集成到量规中的工件夹紧记录仪，重新 程，可发现错误测量结果，并重新测量。圆周平
对部件进行多次测量。测量过程中，部件轴线落 均值的变化也会影响直径测量结果。
在指定的位置。在第二种情况中，分配范围更窄，
分配平均值更接近真实平均值。经过论证实验结 优势值得改变
果后，第一次接触光学千分尺的工人理解了严格 在习惯了千分尺独有的灵敏度和限制后，
控制部件轴线位置，保持位置一致的重要性。 拉里 · 凯勒先生表示，千分尺带来的优势无穷无

第08期 数控机床市场 ·83·