FARO CREAFORM 缩短激光测头（Laser Line Probe）在复杂表面上的数据获取时
2026-4-16 来源：FARO CREAFORM 作者：-
帮助制造厂商在扫描黑色、高亮及高对比度工件时优化检测、逆向工程与质量控制流程，强化 Quantum X FaroArm 与 8 轴旋转工作台（8-Axis Max）的工作流程。
魁北克省莱维市 2026 年 4 月 14 日——FARO CREAFORM 系 AMETEK 阿美特克旗下品牌，是三维扫描与便携式三坐标解决方案的全球供应商， 于今日宣布其全新升级适配 Quantum X FaroArm® 系列与 Quantum Max FaroArm® 系列的激光测头 (LLP) 产品线。本次升级搭载经优化的图像处理算法，可显著提升扫描数据的一致性、加快数据采集速度，对表面处理难度高、对比度差异大的工件尤为显著。
激光测头广泛应用于制造业的非接触式检测、逆向工程与 CAD 比对作业，但在深色、高亮、高反光或高对比度表面上扫描时，往往需要额外调试、多次扫描或手动调整才能获取有效数据。本次升级直接针对此类问题优化 LLP 图像处理机制，帮助用户轻松获取更清晰、更一致的点云数据。
此次升级依托 FARO CREAFORM 认可的 LLP 处理系统 DTEX，不仅能为各类复杂材质提供更高质量的测量数据，同时也减少了微调采集参数的需求。内部性能基准测试显示，在典型复杂工件上，数据采集效率提升率高达 60%，且不影响测量数据完整性。
除优化 LLP 性能外，本次升级还进一步强化了 FARO 8-Axis Max （8轴旋转工作台）的应用价值，该计量级旋转工作台可有效延伸 FaroArm 测量系统的扫描范围。与 Quantum X FaroArm 以及搭载 DTEX 技术支持的 LLP 使用时，8轴旋转工作台 8-Axis Max 能大幅提升大型或复杂工件的扫描效率。通过内置编码器精准测量工件旋转角度，并与测量臂数据同步融合，可在单次流畅的三坐标测量工作流程中，将 DTEX 增强数据完整应用于整个工件。
本次更新适用于全系列激光测头，进一步提升了系统在日常测量场景中的实用价值。
• FAROBlu® xR：具备最高分辨率扫描能力，可对关键微小细节特征提供高质量测量结果。
• FAROBlu® xS：具备最高的扫描效率，能在高强度的制造应用中提升处理能力。
• FAROBlu® xP：完美兼顾分辨率与效率，在维持处理能力的同时又能提供高密度、高精度数据
• Quantum X FaroArm® 系列：在更广泛的工件表面条件下实现更精准、更可靠的 LLP 扫描，全面支持检测、逆向工程与质量控制工作流程。兼容全系列激光测头 FAROBlu LLP，确保这些优化成果覆盖所有激光测头工作流程应用场景。
• FARO 8-Axis Max （8轴旋转工作台）： 搭配 Quantum X 测量臂与 FAROBlu LLP 激光测头使用时，可通过减少设备移动、优化操作体验实现更高效的工作流程，同时提供符合 ISO 17025 认证校准标准的高精度测量结果。
LLP 激光测头工作流程的重要跃升
本次升级旨在为现有 FaroArm 与激光测头（LLP）用户创造更多价值，无需更换硬件即可优化工作流程。通过优化图像处理层、简化复杂表面的处理方式，FARO CREAFORM 旨在提升新老用户的日常作业效率，同时又兼容现有测量标准与流程。
此次更新体现了 FARO CREAFORM 不断深耕便携式计量产品组合，以应用为核心进行优化升级的持续投入，为在生产与质量控制环节依赖稳定、可追溯测量数据的制造商提供坚实支持。
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