FARO CREAFORM 缩短激光测头（Laser Line Probe）在复杂表面上的数据获取时-数控机床市场网

FARO CREAFORM 缩短激光测头（Laser Line Probe）在复杂表面上的数据获取时

2026-4-16 来源：FARO CREAFORM 作者：- 访问量：

帮助制造厂商在扫描黑色、高亮及高对比度工件时优化检测、逆向工程与质量控制流程，强化 Quantum X FaroArm 与 8 轴旋转工作台（8-Axis Max）的工作流程。

魁北克省莱维市 2026 年 4 月 14 日——FARO CREAFORM 系 AMETEK 阿美特克旗下品牌，是三维扫描与便携式三坐标解决方案的全球供应商，于今日宣布其全新升级适配 Quantum X FaroArm® 系列与 Quantum Max FaroArm® 系列的激光测头 (LLP) 产品线。本次升级搭载经优化的图像处理算法，可显著提升扫描数据的一致性、加快数据采集速度，对表面处理难度高、对比度差异大的工件尤为显著。

激光测头广泛应用于制造业的非接触式检测、逆向工程与 CAD 比对作业，但在深色、高亮、高反光或高对比度表面上扫描时，往往需要额外调试、多次扫描或手动调整才能获取有效数据。本次升级直接针对此类问题优化 LLP 图像处理机制，帮助用户轻松获取更清晰、更一致的点云数据。

此次升级依托 FARO CREAFORM 认可的 LLP 处理系统 DTEX，不仅能为各类复杂材质提供更高质量的测量数据，同时也减少了微调采集参数的需求。内部性能基准测试显示，在典型复杂工件上，数据采集效率提升率高达 60%，且不影响测量数据完整性。

除优化 LLP 性能外，本次升级还进一步强化了 FARO 8-Axis Max （8轴旋转工作台）的应用价值，该计量级旋转工作台可有效延伸 FaroArm 测量系统的扫描范围。与 Quantum X FaroArm 以及搭载 DTEX 技术支持的 LLP 使用时，8轴旋转工作台 8-Axis Max 能大幅提升大型或复杂工件的扫描效率。通过内置编码器精准测量工件旋转角度，并与测量臂数据同步融合，可在单次流畅的三坐标测量工作流程中，将 DTEX 增强数据完整应用于整个工件。